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分析型高分辨扫描电子显微镜系统试运行 (2017-06-06)

发布时间:2017-06-06
     分析型高分辨扫描电子显微镜系统安装完毕,从6月6日开始试运行。目前此系统可实现:二次电子拍照,背散射电子拍照,EDS能谱检测,欢迎广大师生前来咨询和送样测试。

 

安装地点:分析测试中心114室联系人:刘丹丹、鲍中秋、洪立芝、何琳。 

电话:021-34206173-221

收费:收费标准见附表1。

 

生产厂商:捷克TESCAN公司

型号:MIRA3-LHM (SEM) & XFlash 6|60 (EDS)

技术参数:

    二次电子像分辨率: 1.0nm @ 30kV3.0nm @ 3kV

       加速电压: 200V30kV,任意连续可调

束流大小: 2pA-200nA

五种观察影像模式: resolutiondepthfieldwide fieldChanneling模式,方便寻找样品位置。

探测器: 高真空二次电子检测器(SE)、极靴内二次电子检测器(In-Beam)、极靴内背散射电子检测器(In-Beam BSE)、四分固体式背散射电子探测器(BSE)、样品室红外CCD探测器。

能谱仪:探头面积60 mm2 SDD

应用领域:主要用于金属、非金属、有色金属、陶瓷等材料的形貌观察、成分分析等。

 

1. 分析型高分辨扫描电子显微镜系统收费标准

测试项目

内容

收费

提供结果内容

SEM

二次电子形貌观察

300.00 RMB/h

二次电子照片

BSE

背散射电子成分及形貌观察

300.00 RMB/h

背散射电子照片

EDS能谱检测

点扫

50.00 RMB/

元素成分分析结果

线扫

75.00 RMB/线

面扫

100.00 RMB/

*试运行期间收费为以上标准的5折。试运行时间至2017626日。