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2017年度下半年分析测试中心技术讲座

发布时间:2017-09-21
题目: 飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)的最新进展与应用

时间:2017年7月4日(周二),9:00am – 12:00am

地点: 分析测试中心317室

主讲人: 高聚宁 博士(北京艾飞拓科技有限公司),鲁德凤 女士 (PHI表面分析设备技术支持,高德英特(北京)科技有限公司)

高聚宁博士报告的主要内容: 飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)是一种非常灵敏的表面检测技术。它可以获得关于表面、薄膜以及样品界面的元素和分子的详细信息,并且给出完整的三维分析。这种技术的应用范围十分广泛,包括半导体、高分子材料、油漆、镀层、玻璃、纸、金属、陶瓷、生物材料、药物以及有机组织等。第五代ION-TOF的ToF-SIMS仪器的最新进展包括第二代分析Bi源,用于有机薄膜剥离的GCS源,以及动态离子扩展技术(EDR)等。

鲁德凤女士的报告将介绍PHI TRIFTV Nano TOF II TOF-SIMS的技术特点和主要应用。

 

题目:从生物起源和近代人类的演变探讨运动增进健康的生物化学基础

时间:2017年7月5日(周三)下午2:50

地点:分析测试中心317会议室

主讲人:齐念宁博士

主要内容:

一、运动是推动人类进化的重要因素

1、生命的产生与地球氧气的出现和积累

2、运动与机体对氧的摄取和利用

二、生物进化论与现代医学研究

1、大鼠运动模型的创建

2、运动促进健康的分子学新发现

三、如何建立一个健康的生活方式


题目:冷冻电镜技术及应用
时间:2017年7月10日(周一),下午2点
地点:分析测试中心323室
主讲人:余涌 (博士,生物电镜专家)
主要内容:
1. 冷冻电镜技术最新发展
2.冷冻电镜在材料研究中的应用
3. 冷冻电镜结构生物学中的应用



题目:Photo-induced Force Microscopy (PiFM)——Nanoscale Hyperspectral Infrared Chemical Imaging

时间:2017925日(周一)下午1:30

地点:分析测试中心317会议室

主讲人:Sung Park Dr. SungPark has 25 years of experience of ultra-high vacuum STM, low-temperature STM,AFM, scanning capacitance microscope, and specialized MEMS products. He is theCEO of Molecular Vista, which is co-founded with Prof. Kumar Wickramasinghe (UCIrvine, formerly of IBM) in 2011 to provide research and industrial tools forrapid and nanoscale imaging with chemical identification.

主要内容:PiFM is a nano spectroscopy techniqueproviding hyperspectral imaging with AFM for sub-10nm spatial and chemicalresolution with unprecedented sensitivity such as block copolymer,polymer-polymer blends, polymer-drug mixture, interfacial polymer mixing and 2Dmaterials, all observed with never-before-seen sensitivity and resolution.